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顆粒圖像分析儀/顯微圖像分析系統(tǒng)/顯微圖像儀 型號DP-2006

更新時間:2019-03-28點(diǎn)擊次數(shù):1714

顆粒圖像分析儀/顯微圖像分析系統(tǒng)/顯微圖像儀 型號DP-2006

 DP-2006型顯微圖像分析系統(tǒng)是我公司研制的種圖像法顆粒分析儀器。它是傳統(tǒng)的顯微鏡法與現(xiàn)代的圖像處理相結(jié)合的產(chǎn)物。它的基本作流程是通過數(shù)字?jǐn)z象機(jī)抓拍顆粒在顯微鏡下的圖像并傳輸?shù)接嬎銠C(jī)中,通過專業(yè)的顆粒圖像分析軟件對圖像行處理與分析, 經(jīng)顯示器和打印機(jī)顯示和輸出分析結(jié)果。本儀器具有直觀、準(zhǔn)確、測試范圍寬等特點(diǎn),不僅可以直接觀察到顆粒形貌,還可以計算出每個顆粒粒徑和圓形度以及粒度分布和圓形度分布,為科研、域增添了種新的粒度測試手段。 

、DP-2006顆圖像分析儀基本參數(shù)

  •     測試范圍:1-3000微米;
  •     顯微鏡:中外合資光學(xué)顯微鏡(可選配其他種類顯微鏡,如口顯微鏡、金相顯微鏡等);
  •     數(shù)字?jǐn)z像機(jī):300像素;
  •     大光學(xué)放大倍數(shù):1600倍;
  •     系統(tǒng)總放大倍數(shù):5000倍;
  •     大分辨率:0.1微米/像素;
  •     重復(fù)性誤差:<3%(不包含樣品制備因素成的誤差)。


 

二、DP-2006數(shù)字?jǐn)z像機(jī)基本參數(shù)

  •     像素尺寸:3.2μm X 3.2μm;
  •     傳感器類型:逐行掃描CMOS;
  •     輸出顏色:bayer彩色;
  •     數(shù)據(jù)位數(shù):紅綠藍(lán)各10選8;
  •     光學(xué)尺寸:1/2英寸;
  •     鏡頭接口:CS,C;
  •     信噪比:43dB;
  •     動態(tài)范圍:60dB;
  •     清晰度:>1000線;
  •     曝光方式:ERS;
  •     同步方式:外觸發(fā)或連續(xù)采集;
  •     輸出方式:USB2.0;
  •     數(shù)據(jù)傳輸距離:數(shù)據(jù)傳輸距離5米(加中繼可達(dá)25m);
  •     可編程控制:圖像尺寸、亮度、增益、幀率、曝光時間;
  •     供電要求:5V;
  •     耗:<2.25W;
  •     外形尺寸(mm):54.5x54.5x46.1(含接圈)、38x38x38.7(不含接圈)。


 

三、DP-2006儀器組成與圖像分析原理

  • 儀器組成:
  •     DP-2006型顯微圖像分析系統(tǒng)包括粒度分析軟件、數(shù)字?jǐn)z像機(jī)、顯微鏡、電腦、打印機(jī)等組成分。
  •    
  • 分析原理:
  •     通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒所包含的像素量的統(tǒng)計,計算出每個顆粒的等效面積圓和等體積,從而得到顆粒的等效圓面積直徑和等體積直徑以及圓形度等參數(shù),再對所有的顆粒行分級統(tǒng)計,從而得到粒度分布、圓形度分布等信息。


 

四、DP-2006顆粒圖像分析儀軟件能

LIRI-2006顆粒圖像分析儀測試結(jié)果圖片

  • 圖像處理能:
  •     對圖像行灰度轉(zhuǎn)換,二值化,分割,刪除,剪切,粘貼,縮放,填充等系列處理,得到顆粒清晰的黑白二值化圖像。
  •    
  • 數(shù)據(jù)處理能:
  •     通過對圖像行處理,測量軟件自動統(tǒng)計出顆粒個數(shù),然后計算每個顆粒所包含的像素數(shù),得出顆粒的面積、等效直徑、等效周長、實(shí)際周長、圓形度等參數(shù)。通過粒度分級,得到用戶需要的粒度分布表和分布圖以及d10、d50、d90等典型參數(shù),并可根據(jù)需要選擇個數(shù)分布或體積分布。
  •    
  • 軟件輸出項(xiàng)目:
  •     包括原始數(shù)據(jù)(樣品信息和測試信息);分析數(shù)據(jù)(粒度分布表/粒度分布圖);圖形(頻率分布直方圖和累計分布曲線);典型結(jié)果(中位徑,平均徑,圓形度等)。
  •    
  • 報告輸出能:
  •     可以打印原始圖像和多種測試報告,包括粒度報告,圖像報告,圓形度報告以及粒度和典型圖像的綜合報告。


 

軟件操作流程


 

五、DP-2006顆粒圖像分析儀適用域

  •     研磨材料:白剛玉、金剛石、碳化硅、碳化硼、氧化鈰等;
  •     電池材料:石墨、鈷酸鋰等;
  •     其他:可用來觀察各種非金屬粉、金屬粉以及其他粉體。